电压放大器在正弦相位调制激光干涉纳米位移测量系统中的应用
实验名称:正弦相位调制激光干涉纳米位移测量系统方案
测试设备:电压放大器、电光相位调制器、光电探测器、He-Ne单频激光器等。
实验过程:
图1:正弦相位调制激光干涉纳米位移测量系统光路结构示意图
正弦相位调制激光干涉纳米位移测量系统光路结构如图1所示,图1中采用He-Ne单频激光器和横向电光相位调制器(EOM)构建了正弦相位调制激光干涉位移测量系统。为了表述方便将分光棱镜BS至参考角锥棱镜M1之间的光程标记为lr,将BS至角锥棱镜M2之间的光程标记为lo,将角锥棱镜M2的移动距离标记为Δl。干涉信号经过光电探测器PD探测后,经由ADC模数转换芯片采集输入进FPGA信号处理模块。FPGA对采集后的干涉信号进行载波基频和二倍频相乘并低通滤波,对低通滤波后的结果进行卡尔曼滤波处理,以修正正交分量的交流幅值和直流偏置,再进行反正切操作得到带解调相位。FPGA模块采用数字式频率生成器(DDS)来产生EOM的载波相位调制信号sinωct,经电压放大器(HVA)放大后调制EOM。同时FPGA模块通过串口与上位机相连,以实现相位解调结果的可视化,以及对位移测量过程中各参数的监测操作。
实验结果:
实验中介绍了横向电光相位调制相关原理,然后介绍了正弦相位调制激光干涉纳米位移测量系统光路,同时搭建实验系统来进行测试实验。
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图:ATA-2088高压放大器指标参数
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