实验名称：高性能光与原子纠缠界面产生中的实验技术

　　测试目的：纠缠保真度、恢复效率和存储寿命是高性能光子-原子纠缠界面的重要指标。漏到探测系统中的写光、读光和锁定光是导致纠缠保真度下降的主要因素，我们用模式清洁器和F-P滤波器组合进行滤除；环形腔用来增加光与原子系综的耦合强度，提高恢复效率，我们用PDH技术实现环形腔锁定。

　　测试设备：高压放大器、函数发生器、光隔离器、电光调制器、激光器、PZT等。

　　实验过程：

　　图1：PDH锁定原理图。Laser：激光器；ISO：光隔离器；EOM：电光调制器；Cavity：模式清洁器（环形腔）；PZT：压电陶瓷；BS：分束镜；Detector：光电探测器；HP：高通滤波器；HV：高压放大器；Oscillator：函数发生器；DB：位相延迟器；Mixer：混频器；LP：低通滤波器；PID：比例积分器

　　用模式清洁器滤除光源的非相干成分，用环形腔提高光与原子系综的耦合强度。模式清洁器和环形腔均采用PDH锁定技术稳定腔长，图1为PDH锁定原理图。一束频率锁定的激光经过光隔离器和电光调制器（经高压放大器放大的函数发生器信号驱动）后，调制后的激光注入模式清洁器（环形腔），用光电探测器探测透射或反射腔信号。探测到的信号经高通滤波器后与函数发生器经相位延迟器的信号混频，混频后的信号经低通滤波器后得到误差信号。误差信号经比例积分器和高压放大器后反馈至模式清洁器（环形腔）的压电陶瓷上，驱动压电陶瓷稳定腔长。

　　实验结果：

　　搭建实验装置，介绍了实现高性能存储器需要用到的实验技术和方法，包括地磁场精确补偿、模式清洁器、F-P滤波器和PDH锁频技术。最后介绍了光与原子相互作用基本理论。这些技术及理论为高性能原子-光子纠缠界面的产生奠定了基础。

　　高压放大器推荐：ATA-7015

　　图：ATA-7015高压放大器指标参数

　　本资料由AigtekJN江南sports电子整理发布，更多案例及产品详情请持续关注我们。西安JN江南sports电子Aigtek已经成为在业界拥有广泛产品线，且具有相当规模的仪器设备供应商，样机都支持免费试用。如想了解更多功率放大器等产品，请持续关注JN江南sports电子官网www.aigtek.com或拨打029-88865020。